Un nuovo corso sui fenomeni elettromagnetici interferenti (EMI) di natura transitoria e continua è stato organizzato dal CEI: “EMC: Immunità di componenti e sistemi”, la cui prima edizione si terrà nei giorni 6 e 7 novembre 2014 a Milano, presso la sede del CEI in Via Saccardo 9. Il corso, svolto da esperti del settore, è rivolto a progettisti di piastre a circuito stampato, apparati e sistemi elettrici ed elettronici. Si rivolge anche ai tecnici che operano nell’ambito dei laboratori EMC per le misure di immunità, in accordo con le relative norme di prodotto.
La giornata formativa tratta la riproduzione di tali fenomeni in laboratorio e la simulazione al calcolatore, mediante opportuni modelli di tipo circuitale e numerico tre dimensioni (3D), che permettono anche una corretta progettazione EMI/EMC di apparati e sistemi. I fenomeni trattati sono sia del tipo onda continua (continuous wave), prodotti da stazioni radio e televisive, radar e dispositivi di telecomunicazione, che del tipo transitorio (transient), come SURGE (fulminazioni), EFT (transitori veloci), ESD (scariche elettrostatiche) e campi magnetici impulsivi. Nel corso sono descritte anche le principali caratteristiche elettriche dei fenomeni ambientali che causano interferenze ai prodotti e dei meccanismi di accoppiamento.
L’obiettivo del corso è di illustrare le principali innovazioni introdotte nei relativi standard di base della IEC serie di norme 61000-4 sulla Compatibilità Elettromagnetica (EMC) e di fornire le basi per la loro simulazione al calcolatore, mediante prodotti commerciali.
Altri temi trattati sono la teoria e le regole di progetto delle schermature, perché d’importanza vitale per le soluzioni di Compatibilità Elettromagnetica (EMC), a livello d’involucro dei prodotti e dei cavi ad essi collegati.
Ampio spazio viene dato anche alle protezioni da adottare a livello di IC, PCB e sistema per la protezione da RF e transitori. Numerosi esempi di simulazioni saranno presentati e discussi utilizzando un simulatore circuitale commerciale SPICE-like (MicroCap10) e numerico 3D (CST), nonché alle misure di immunità direttamente sui componenti in accordo con gli standard IEC 62132 (RF immunity), IEC 62215 (transient immunity) e di simulazione IEC 62433 (Models of ICs for EMI) e alle nuove metodologie introdotte negli standard di base della IEC, per la valutazione dell’incertezza di misura.
la Redazione
